X射线断层扫描系统
GE - V|tome|x S
高分辨率 3D CT 成像系统和实时 2D 检测，有两种 X 射线管可选：开放式、微焦点 240KV/320W 和纳米焦点 180KV/15W。
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技术描述
- X射线CT技术检测系统适用于材料研究、矿石样品分析、模具检测、电子和半导体元件、金属机械零件、复杂组件等应用。
- 集成了实时二维检查功能和三维CT成像功能。
- 使用 Click & Measure CT 程序可以进行自动 3D CT 扫描。
- 微焦点 240kV/320W 和纳米焦点 180kV/15W 开放式 X 射线管（无限寿命）
- 3D放大倍率：1.46倍 -> 100倍
- 可检测尺寸小：1μm；三维分辨率：< 2μm
- 最大样品尺寸（高 x 直径）：500 x 700 毫米；
- 五轴致动器
- 测试样品最大重量：10 公斤
- 图像重建功能，可显示尺寸并与 CAD 图纸进行比较（可选）
