X射线断层扫描系统
GE - Nanotom M
纳米CT成像系统，提供两种选项：微型CT和纳米CT，支持3D成像。该系统具有高空间分辨率，可处理大尺寸样本。配备C扫描的自动化检测功能……
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技术描述
- X射线CT技术检测系统适用于材料研究、矿石样品分析、模具检测、电子和半导体元件、金属机械零件、复杂组件等应用。
- 结合二维数字X射线成像和CT扫描技术。
- 180kV/15W双极X射线管
- 二维放大倍率：1.5 至 100 倍
- 可检测尺寸小：200 nm；三维分辨率：< 500 nm
- 最大测试样品尺寸（高 x 深）：150 毫米 x 120 毫米（250 毫米 x 240 毫米）；5 轴控制。
- 测试样品最大重量：2 公斤（/3 公斤）
- 图像重建功能，可显示尺寸并与 CAD 图纸进行比较（可选）
