X射线断层扫描系统
GE - Nanome|x
该系统分辨率为0.5微米，物体尺寸为680x635毫米。它专为电子电路板检测而设计，并与DXR250RT显示器具有良好的对比度。
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技术描述
- 用于半导体和SMT行业小型机械零件和电路板检测的纳米级分辨率自动化X射线检测系统……
- 分辨率达到200纳米。
- 纳米聚焦180kV/15W高功率X射线管
- 数码图像分辨率最高可达 200 万像素（可选 400 万像素）
- 二维放大倍数：1970倍；三维放大倍数：小于300倍
- 可调节视角：0 -> 70 度
- 最大检测样品尺寸：680 毫米 x 635 毫米；5 轴控制。
- 测试样品最大重量：10 公斤
- 可选的 nanoCT 功能，可在短短 10 秒内完成 CT 扫描。
- 这种紧凑型舱式系统适用于任何实验室或生产线。
应用
- 测试多层电子电路板的质量。
- 检查BGA芯片的结构。
- 检查焊接在电路板上的元件的引脚：检查引脚填充情况、引脚凹陷情况和焊点情况。
- 用于制造芯片和电路板的工厂，以及需要检测小型薄金属零件的场所。
- 所有应用程序都经过了实时测试，效果非常好。
