X射线断层扫描系统
GE - Nanotom S
这款功率为180kV/15W的纳米CT成像系统适用于以下应用：材料科学、精密成型或微机械工程……
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技术描述
- X射线CT技术检测系统适用于材料研究、矿石样品分析、模具检测、电子和半导体元件、金属机械零件、复杂组件等应用。
- 结合二维数字X射线成像和CT扫描技术。
- 180kV/15W双极X射线管
- 二维放大倍率：1.5 至 100 倍
- 可检测尺寸小：200 nm；三维分辨率：< 500 nm
- 最大测试样品尺寸（高 x 深）：150 毫米 x 120 毫米（250 毫米 x 240 毫米）；5 轴控制。
- 测试样品最大重量：2 公斤（/3 公斤）
- 图像重建功能，可显示尺寸并与 CAD 图纸进行比较（可选）
应用
- 该设备用于检测高度精细的小型零部件。
- 应用于各种科学领域、研究和电子产品制造。
- 快速检测高分辨率缺陷，创建 3D 图像，并同时导出详细图纸。
