X射线断层扫描系统
GE - v|tome|x m
高分辨率计算机断层扫描 (CT) 成像系统，可进行二维和三维扫描，提供两种球管选择：微型 CT 和纳米 CT。300 kV/500W 球管。高分辨率 <...
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技术描述
- X射线和CT扫描系统适用于材料研究、矿石取样、模具检测、电子和半导体元件、金属机械零件、复杂组件等应用。它们结合了二维数字X射线成像和三维CT扫描技术。
- 300kV/500W双极X射线管
- 适用于实验室的紧凑型系统。
- 二维放大倍率：1.46 -> 180倍；三维放大倍率：1.25 -> 160倍
- 可检测尺寸小：1μm；三维分辨率：< 2μm
- 最大样品尺寸（高 x 深）：600 mm x 300 mm（可增大至 600 x 500 mm，但移动范围有限）；400 mm x 300 mm（扫描 3D CT 时）；五轴控制
- 测试样品最大重量：50 公斤。图像重建功能，可显示尺寸并与 CAD 图纸进行比较（可选）。
应用
- 该设备用于检测高精度小型零件，并可选择检测较大零件。
- 应用于各种科学领域、研究和电子产品制造。
- 在机械制造行业中，设计涉及创建由相对较小的部件组成的原型。
- 快速检测高分辨率缺陷，创建 3D 图像，并同时导出详细图纸。
