X射线断层扫描系统
GE - v|tome|x L450
v|tome|x L 450 高分辨率断层扫描系统提供二维和三维断层扫描检测，并可选配微型 CT 内窥镜。它用于检测超大型物体……
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技术描述
- X射线CT技术检测系统适用于材料研究、矿石样品分析、模具检测、电子和半导体元件、金属机械零件、复杂组件等应用。
- 结合二维数字X射线成像和三维CT扫描技术。
- 240kV-450kV/1500W双极X射线管
- 二维放大倍率：1.25 倍 -> 555 倍；三维放大倍率：1.25 倍 -> 333 倍
- 可检测尺寸小：1μm；三维分辨率：<1.3μm
- 最大测试样品尺寸（高 x 深）：1000 毫米 x 800 毫米；7 轴控制
- 测试样品最大重量：100公斤
- 图像重建功能，可显示尺寸并与 CAD 图纸进行比较（可选）
应用
- 用于机械制造、铸造中的特殊图案设计以及大型原型零件。
- 常用行业：汽车、发动机缸体制造、铸造业等。
- 快速检测缺陷，创建 3D 图像，并同时导出详细图纸。
