X射线断层扫描系统
GE - v|tome|x L240- L300
v|tome|x L 300 高分辨率断层扫描系统可进行二维和三维断层扫描，并可选配微型 CT 管。300 kV/500 Wm 的 CT 管用于样品测试……
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技术描述
- X射线CT技术检测系统适用于材料研究、矿石样品分析、模具检测、电子和半导体元件、金属机械零件、复杂组件等应用。
- 结合二维数字X射线成像和三维CT扫描技术。
- 180kV-240kV/320W（300kV/500W）双极X射线管
- 二维放大倍率：1.25 -> 333 倍；三维放大倍率：1.25 -> 200 倍
- 可检测尺寸小：1μm；三维分辨率：< 2μm
- 最大测试样品尺寸（高 x 直径）：600 毫米 x 500 毫米；5 轴控制（L240），7 轴控制（L300）
- 测试样品最大重量：50公斤
- 图像重建功能，可显示尺寸并与 CAD 图纸进行比较（可选）
应用
- 该设备用于检测高精度小型零件，并可选择检测较大零件。
- 应用于各种科学领域、研究和电子产品制造。
- 在机械制造业中，铸造过程中会采用特殊设计，例如涡轮叶片。
- 快速、高分辨率缺陷检测、3D图像创建和详细图纸输出。
