光学玻璃表面分析仪
Taylor Hobson - CCI Optics
CCI Optic非接触式3D表面测量与分析系统是基于波干涉理论，专为光学玻璃检测应用而设计的……
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技术描述
- 高达 2048 x 2048 像素的高分辨率，以及广视角
- 整个测量范围内分辨率为 0.1 Å
- 轻松测量反射表面上 0.3% 至 100% 的反射率。
- 有效重复性（RMS）<0.2 Å，阶跃样品重复性<0.1%
- 多语言 64 位控制和分析软件
规格
| 概述 | |||
| 模型 | CCI Optics RM | CCI Optics AD | CCI Optics TF |
| 相机 | 100万像素 | 100万像素 | 400万像素 |
| 相机升级（HS拼接） | 选修的 | 选修的 | 无法使用 |
| 摄像头升级（400万像素） | 选修的 | 选修的 | 无法使用 |
| 粗糙度 | 包括 | 包括 | 包括 |
| 台阶高度 | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| 超级顺滑 | 包括 | 选修的 | 选修的 |
| TalyMap Lite | 选修的 | 包括 | 选修的 |
| 塔利马普金 | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| TalyMap Platinum | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| PSD | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| 非球面分析 | 无法使用 | 包括 | 选修的 |
| 衍射非球面分析 | 无法使用 | 选修的 | 选修的 |
| 超低反射率表面（镀增透膜） | 选修的 | 选修的 | 包括 |
| 厚膜分析（>1.5 μm） | 无法使用 | 无法使用 | 选修的 |
| 薄膜厚度（>50 nm） | 无法使用 | 无法使用 | 选修的 |
| 缝纫 | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| 多站点 | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| 标准镜头 | 20倍 | 10倍 | 10倍 |
| 其他镜头 | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| 操纵杆 | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| 112 x 78 毫米平台 | 包括 | 包括 | 包括 |
| 156 x 156 毫米平台 | 选修的 | 选修的 | 选修的 |
| 内部音视频 | 包括 | 包括 | 包括 |
| 主动式AV | 无法使用 | 无法使用 | 选修的 |
