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模組化粗糙度與輪廓量測系統 - Jenoptik - Waveline W800 | Quoc Huy Technique
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Jenoptik - Waveline W800
模組化粗糙度與輪廓量測系統
Jenoptik - Waveline W800
高精度半自動量測系統,適用於量測室與生產現場。
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技术描述
应用
技术描述
測量:
roughness + contour 於同一系統中
→ 功能多元並減少設備
設計:
modular (mô-đun)
→ 易於擴充並依應用自訂
操作:
manual / semi-automatic
→ 適用於 QC 室與生產現場
Quick Change Adapter (QCA)
→ 無需工具即可快速更換探頭
磁吸式探頭 + RFID
→ 自動識別並自動配置量測
多種探頭系統:
Roughness (TKU, Surfscan)
Contour (Digiscan)
High-end (Nanoscan)
特別設計的滑動機構(traverse unit)
→ 可輕鬆接觸難以量測的位置
精度高且機械穩定性佳
→ 適用於精密量測
高速移動(最高約 200 mm/s)
→ 縮短量測時間
应用
汽車(軸承、軸、活塞)
精密機械加工
計量實驗室
製造業 QA/QC
光泽度测量 - 表面粗糙度 - 表面轮廓测量
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