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光泽度测量 - 表面粗糙度 - 表面轮廓测量
Jenoptik - Waveline W600
紧凑型粗糙度与轮廓测量仪
Jenoptik - Waveline W600
Jenoptik Waveline W600
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技术描述
应用
技术描述
在同一平台上测量
粗糙度或轮廓（或两者）
紧凑设计，
操作简便
→ 适用于质检和生产
手动高度调节
→ 精确定位探头
优化的移动机构
→ 便于测量难以触及的位置
快速更换适配器（QCA）
→ 快速更换探头并自动识别
现代高分辨率探头
（TKU400、Digiscan 等）
磁吸式探头臂 + RFID
→ 快速更换并自动配置
模块化设计
→ 可在未来扩展
高机械稳定性
→ 确保测量质量
应用
计量实验室
生产线附近的质量检查
汽车、精密机械、轴承、机加工零件
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