配备大样品室、SDD 探测器的新型 X 射线荧光分析仪
2. 体积小巧
3. 简单
4. 智能
5.安全
| 基本参数 | 原则 | 能量色散X射线荧光光谱法 |
|---|---|---|
| 应用目标 | RoHS、ELV、无卤素 | |
| 测量元件 | 13Al-92U | |
| 样品类型 | 固体、液体、粉末 | |
| X射线发生器 | X射线管 | 最大50kV，0.2mA |
| X射线投影尺寸 | 1.2mm、3mm、7mm（自动切换） | |
| X射线过滤器 | 4种（自动切换） | |
| 探测 | 类型 | SDD（硅接收器） |
| 信号处理器 | 数字脉冲处理器 | |
| 样品室 | 测量条件 | 空气 |
| 样本观察 | CCD相机 | |
| 样品室尺寸 | 460 x 360 x 150 毫米（宽 x 深 x 高） | |
| 实用工具 | 操作 | 电脑（Windows® 7） |
| 电源 | 100-240伏，50/60赫兹 | |
| 尺寸 | 590 x 590 x 400 毫米（宽 x 深 x 高） | |
| 重量 | 60公斤 | |
| 软件 | 分析功能 | 多层镀层/涂层厚度测量（可选）、Sb/As分析（可选） |
