台式RoHS分析仪
HORIBA - MESA-50K
配备大样品室、SDD 探测器的新型 X 射线荧光分析仪
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技术描述
1.速度
- 二氧化硅检测器 (SDD) 可缩短分析时间并提高高通量分析的灵敏度。
2. 体积小巧
- MESA-50K 拥有较大的样品室，不会影响工作区域。通过 USB 端口连接到计算机。
3. 简单
- 减少维护（无需液氮操作）
- 无需真空泵
- 适用于所有类型材料的简单直观的测量过程
4. 智能
- 英文/日文/中文界面
- Excel®数据管理工具
5.安全
- 无需担心X射线泄漏
规格
| 基本参数 | 原则 | 能量色散X射线荧光光谱法 |
|---|---|---|
| 应用目标 | RoHS、ELV、无卤素 | |
| 测量元件 | 13Al-92U | |
| 样品类型 | 固体、液体、粉末 | |
| X射线发生器 | X射线管 | 最大50kV，0.2mA |
| X射线投影尺寸 | 1.2mm、3mm、7mm（自动切换） | |
| X射线过滤器 | 4种（自动切换） | |
| 探测 | 类型 | SDD（硅接收器） |
| 信号处理器 | 数字脉冲处理器 | |
| 样品室 | 测量条件 | 空气 |
| 样本观察 | CCD相机 | |
| 样品室尺寸 | 460 x 360 x 150 毫米（宽 x 深 x 高） | |
| 实用工具 | 操作 | 电脑（Windows® 7） |
| 电源 | 100-240伏，50/60赫兹 | |
| 尺寸 | 590 x 590 x 400 毫米（宽 x 深 x 高） | |
| 重量 | 60公斤 | |
| 软件 | 分析功能 | 多层镀层/涂层厚度测量（可选）、Sb/As分析（可选） |
