XRF涂层分析仪
Hitachi - X-Strata920
X-Strata920 XRF 涂层分析仪用于分析/测量一层或多层涂层的厚度。
Gọi (+84) 828 31 08 99 để được tư vấn.
技术描述
- 基于X射线荧光（XRF）方法的X射线测厚仪（涂层厚度分析仪）是一种经过验证的技术，能够提供快速、准确且无损的分析结果。
- X-Strata920 专为测量金属表面处理和电子行业的单层和多层涂层（包括合金涂层）而设计。日立分析仪器的应用研究专家对 X-Strata920 进行了优化，确保您在数百种应用（包括 PCB 表面处理、工业电镀）中获得可靠的结果。
- X-Strata920 提供精确可靠的微米级结果。
应用
规格
| 概述 | |
| 可检测元素范围： | Ti 到 U（PC 检测器）和 AL 到 U（SDD 检测器）。 |
| 层数和元素数： | 可测量多达4层涂层/1个基材。可同时进行多达25种元素的光谱分析。 |
| X射线源： | 50瓦。 |
| 计数器（检测器）： | PC 或 SDD。 |
| 准直器： | 单管或多管（可配1-6个准直管）。尺寸可根据客户要求定制（最小0.025x0.05mm） |
| 重点： | 激光，比相机对焦方式对焦效果更好。 |
| 二次过滤器： | 最多 3 个用于重叠校正的滤光片（钒、钴和镍）。（仅限 PC 探测器） |
| 数字脉冲处理： | 4096通道数字多通道分析仪。自动信号处理。 |
| 监控摄像头： | 有。 |
| 软件： | SmartLink FP。 |
| 语言： | 英语、中文（繁体和简体）、法语、德语、西班牙语、日语、韩语、意大利语、捷克语和俄语 |
| 电脑： | CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93 GHz；硬盘：500GB，内存：2GB；DVDRW。操作系统：Microsoft WindowsTM。 |
| 电源供应： | 85~130伏或215~265伏，频率范围为47Hz至63Hz。 |
| 工作环境： | 10°C (50°F) 至 40°C (104°F)，相对湿度高达 98%，无冷凝。 |
| 可用配置： | |
| 标准： | （适用于样品高度为 33 毫米的零件） |
| 迷你井： | （适用于样品高度为 160 毫米的零件） |
| XY 表： | 178毫米 x 178毫米。 |
| 所有配置上的 Z 轴运动： | 43毫米。 |
| 尺寸（宽 x 长 x 高）： | |
| 标准： | 407 x 770 x 305 毫米。 |
| 迷你井： | 407 x 770 x 400 毫米。 |
| XY 工作台： | 610 x 1037 x 375 毫米。 |
| 笔记： | 上述尺寸不包括 PC 和显示器。 |
| 重量： | 97公斤（不含电脑和显示器）。 |
