FT200 台式涂层测厚仪、油漆和成分分析仪的设计旨在显著缩短测量时间。
X 射线荧光 (XRF)涂层厚度测量和成分分析是一种成熟的技术，能够提供快速、准确且无损的分析结果。
日立高新技术的应用研究专家对 FT230 进行了优化，以确保您在 PCB 表面处理、工业电镀涂层等数百种应用中获得可靠的结果。
FT230 的每个元素都旨在显著缩短分析时间。
| 项目 | FT210 台式XRF分析仪 | FT230 台式XRF分析仪 |
|---|---|---|
| 元素范围 | Ti (22) - U (92) | Al (13) - U (92) |
| 探测器 | 比例计数器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| 样品舱设计 | 开槽式或封闭式 | 开槽式或封闭式 |
| XY平台设计 | 电动或固定式 | 电动或固定式 |
| XY平台行程 | 250 × 200 mm | 250 × 200 mm |
| 电动Z轴行程 | 205 mm | 205 mm |
| 最大样品尺寸 | 500 × 400 × 150 mm | 500 × 400 × 150 mm |
| 准直器数量 | 4 | 4 |
| 聚焦激光 | 标配 | 标配 |
| 自动聚焦 | 选配 | 选配 |
| 广角摄像头 | 选配 | 选配 |
| 距离无关测量 | 选配 | 选配 |
| Find My Part™ 智能识别 | 选配 | 选配 |
| 涂层分析 | ✔️ | ✔️ |
| RoHS 筛查 | 不适用 | ✔️ |
| 软件 | FT Connect | FT Connect |
