Gauge đo tiêu điểm tia X cấp nano (<100 µm)
Kowotest - nanoXspot
Gauge đo tiêu điểm tia X cấp nano với độ chính xác cao, hỗ trợ đánh giá microfocus và nanofocus theo tiêu chuẩn ISO 32543.
Gọi (+84) 828 31 08 99 để được tư vấn.
Đặc Tính Kỹ Thuật
- Đo tiêu điểm < 100 µm (micro & nano focus)
- Hỗ trợ đánh giá tiêu điểm cực nhỏ:
- từ ~100 nm đến vài µm
- Thiết kế đa cấu trúc (multi-pattern):
- Line groups (2 → 63 µm)
- Hole arrays (10 → 100 µm)
- Thuật toán:
- Tái tạo tiêu điểm (filtered back projection)
- Phân tích:
- Edge Spread Function (ESF)
- Line Spread Function (LSF)
- MTF
- Giảm phụ thuộc người vận hành (alignment & fitting tự động)
- Yêu cầu chất lượng ảnh thấp hơn so với phương pháp truyền thống
- Tương thích tiêu chuẩn:
- ISO 32543
- EN 12543 (liên quan)
Ứng Dụng
- Kiểm tra ống tia X microfocus & nanofocus
- Kiểm soát chất lượng hệ thống:
- Industrial CT
- X-ray inspection
- Nghiên cứu & hiệu chuẩn hệ đo nano
