GE - V|tome|x S

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - V|tome|x S

Hệ thống chụp ảnh cắt lớp 3D CT độ phân giải cao và kiểm tra 2D realtime với 2 lựa chọn ống phát tia X loại Open, Microfocus 240KV/ 320W và Nanofocus 180KV/15W

Đặc Tính Kỹ Thuật

  • Hệ thống kiểm tra Xray công nghệ CT phù hợp cho các ứng dụng nghiên cứu vật liệu, mẫu quặng, kiểm tra khuôn mẫu, chi tiết điện tử - bán dẫn, chi tiết cơ khí kim loại, lắp ráp phức tạp...
  • Tích hợp cả khả năng kiểm tra 2D realtime và Chụp ảnh cắt lớp CT 3D
  • Có khả năng thực hiện quét 3D CT tự động với chương trình Click & Measure CT
  • Ống phát tia X microfocus 240kV/320W và Nanofocus 180KV/15W, loại Open (tuổi thọ không giới hạn)
  • Độ phóng đại 3D: 1.46 -> 100 lần
  • Kích thước nhỏ có thể phát hiện: 1μm; Độ phân giải 3D: < 2 μm
  • Kích thước mẫu tối đa (H x D): 500 x 700 mm ;
  • Cơ cấu chấp hành điều khiển 5 trục
  • Khối lượng mẫu kiểm tra tối đa: 10 kg
  • Chức năng tái tạo hình ảnh có kích thước và so sánh với bản vẽ CAD (Tùy chọn)

Sản phẩm cùng Danh mục

aE02OxSzYaW2HbcyJwEzV8dAOm9jnVowsEFJ0s4j.png

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - Nanotom M

18.jpg

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - Nanotom S

Kto7O4Z6tVwb3a847nl6zcInayIOkgHrz03KH0e4.png

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - Nanome|x

rmvpFlF7H3LewYIiAHQcjgxYOecIfvyKpXr9MA40.jpeg

Hệ thống X-Ray kiểm tra cắt lớp

GE - X|aminer

Bạn quan tâm đến sản phẩm?
Cần báo giá sản phẩm hoặc thiết bị?

Hãy liên hệ với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi để nhận được sự tư vấn miễn phí và chuyên nghiệp