행사Eddyfi Advanced NDT 2026: 비파괴 검사의 한계를 넓히다“비파괴 검사의 한계를 넓히다”라는 주제로 열린 Eddyfi Advanced NDT 2026 세미나가 호찌민시와 하노이에서 개최되어 전문가와 기술 커뮤니티를 연결했습니다.19-10-2026
애플리케이션 정보OES 시료 준비: 연마, 세척 및 오차 방지재료별 OES 시료 준비 요건과 Hitachi OE720 및 OE750 분광 분석기 사용 전 확인 사항을 알아보세요.05-10-2026
애플리케이션 정보3차원 좌표 측정기(CMM)란 무엇일까요? 자동차, 항공우주, 의료 분야의 활용과 예산 및 ISO/ASME 기준에 맞는 CMM 선택 방법을 알아보세요.05-10-2026