断面検査用X線システム
GE - V|tome|x S
高解像度の3D CTイメージングシステムと、2つのオープン型X線管オプション（マイクロフォーカス240KV / 320Wとナノフォーカス180KV / 15W）を備えたリアルタイム2D検査
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技術仕様
- CT テクノロジー X 線検査システムは、材料研究、鉱石サンプル、金型検査、電子半導体部品、金属機械部品、複雑な組み立てなどの用途に適しています。
- リアルタイム2D検査と3D CTイメージング機能を統合
- Click & Measure CTプログラムによる自動3D CTスキャンが可能
- マイクロフォーカス 240kV/320W およびナノフォーカス 180KV/15W X線管、オープンタイプ（無期限寿命）
- 3D倍率：1.46 -> 100倍
- 検出可能な小さなサイズ：1μm、3D解像度：< 2μm
- 最大サンプルサイズ（H x D）：500 x 700 mm
- 5軸制御アクチュエータ
- 最大試験サンプル重量：10 kg
- 寸法付き画像を再現し、CAD図面と比較する機能（オプション）
