断面検査用X線システム
GE - v|tome|x m
マイクロCT管とナノCT管の2つのオプションを備えた、2Dおよび3D検査用の高解像度CTシステム。300 kV/500Wのチャンバー管。高解像度<...
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技術仕様
- CT技術X線検査システムは、材料研究、鉱石サンプル、金型検査、電子半導体部品、金属機械部品、複雑な組み立てなどの用途に適しています。2DデジタルX線写真と3D CT画像技術を組み合わせています。
- 300kV/500WバイポーラX線管
- 研究室に適したコンパクトなシステム
- 2D倍率：1.46 -> 180倍、3D倍率：1.25 -> 160倍
- 検出可能な小さなサイズ：1μm、3D解像度：< 2μm
- 最大試験サンプルサイズ（高さ×奥行き）：600 mm×300 mm（移動が制限される場合は600 x 500 mmまで拡大可能）；400 mm×300 mm（3D CTスキャン時）；5軸制御
- 最大試験サンプル重量：50kg寸法付き画像を再現しCAD図面と比較する機能（オプション）
アプリケーション
- この装置は小型で高度に複雑な部品の検査に使用され、大型部品の検査オプションも備えています。
- 科学、研究、電子機器製造の多くの分野で使用されます。
- 機械製造業界において、細部までこだわりすぎないサンプルデザイン。
- 高解像度で欠陥を素早く検出し、3D 画像を作成し、詳細な図面をエクスポートします。
