断面検査用X線システム
GE - v|tome|x L450
L 450は、マイクロCTオプションを備えた高解像度2D/3D CTシステムです。非常に大きな物体の検査に使用されます。
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技術仕様
- CT テクノロジー X 線検査システムは、材料研究、鉱石サンプル、金型検査、電子半導体部品、金属機械部品、複雑な組み立てなどの用途に適しています。
- 2DデジタルX線画像と3D CTスキャン技術を組み合わせる
- 240kV-450kV/1500WバイポーラX線管
- 2D倍率：1.25 -> 555倍、3D倍率：1.25 -> 333倍
- 検出可能な小さなサイズ：1μm、3D解像度：< 1.3μm
- 最大試験サンプルサイズ（H x D）：1000 mm x 800 mm；7軸制御
- 最大試験サンプル重量：100 kg
- 寸法付き画像を再現し、CAD図面と比較する機能（オプション）
アプリケーション
- 機械製造業、鋳造業の特殊サンプル設計、大型サンプルの詳細に使用されます
- 一般的に使用される業界: 自動車、エンジンブロック製造、鋳造業界など。
- 欠陥を素早く検出し、3D 画像を作成し、詳細な図面をエクスポートします。
