断面検査用X線システム
GE - v|tome|x L240- L300
マイクロ CT オプションを備えた高解像度 2D および 3D CT システム L 300。試験片用の 300 kV/500Wm チャンバー。
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技術仕様
- CT テクノロジー X 線検査システムは、材料研究、鉱石サンプル、金型検査、電子半導体部品、金属機械部品、複雑な組み立てなどの用途に適しています。
- 2DデジタルX線画像と3D CTスキャン技術を組み合わせる
- バイポーラX線管 180kV-240kV/320W (300kV/500W)
- 2D倍率：1.25 -> 333倍、3D倍率：1.25 -> 200倍
- 検出可能な小さなサイズ：1μm、3D解像度：< 2μm
- 最大試験サンプルサイズ（H x D）：600 mm x 500 mm；5軸制御（L240の場合）、7軸制御（L300の場合）
- 最大試験サンプル重量：50 kg
- 寸法付き画像を再現し、CAD図面と比較する機能（オプション）
アプリケーション
- この装置は小型で高度に複雑な部品の検査に使用され、大型部品の検査オプションも備えています。
- 科学、研究、電子機器製造の多くの分野で使用されます。
- 機械製造業では、鋳造業界、タービンブレードの特殊パターン設計。
- 高解像度で欠陥を素早く検出し、3D画像を作成し、同時に詳細な図面をエクスポートします。
