Waygate Technologies - Phoenix V|tome|x S Neo
辐射成像 (RT - CR - DR - CT)
Waygate Technologies - Phoenix V|tome|x S Neo

X射线断层扫描系统

Waygate Technologies - Phoenix V|tome|x S Neo

高分辨率 3D CT 成像系统和实时 2D 检测,有两种 X 射线管可选:开放式、微焦点 240KV/320W 和纳米焦点 180KV/15W。

技术描述

  • X射线CT技术检测系统适用于材料研究、矿石样品分析、模具检测、电子和半导体元件、金属机械零件、复杂组件等应用。
  • 集成了实时二维检查功能和三维CT成像功能。
  • 使用 Click & Measure CT 程序可以进行自动 3D CT 扫描。
  • 微焦点 240kV/320W 和纳米焦点 180kV/15W 开放式 X 射线管(无限寿命)
  • 3D放大倍率:1.46倍 -> 100倍
  • 可检测尺寸小:1μm;三维分辨率:< 2μm
  • 最大样品尺寸(高 x 直径):500 x 700 毫米;
  • 五轴致动器
  • 测试样品最大重量:10 公斤
  • 图像重建功能,可显示尺寸并与 CAD 图纸进行比较(可选)

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