Magnaflux - UVM3059
磁粉检测(MT)
Magnaflux - UVM3059

无损检测光测量装置

Magnaflux - UVM3059

用于无损检测荧光测试

技术描述

用于荧光检测的无损检测光度计
我们的无损检测 (NDT) 光度计将帮助您在日常 NDT 系统检测过程中检查和测量光照水平,以确保检测的质量和可靠性。

UVM3059
数字紫外线照度计

UVM3059 专为测量紫外线 (UV) 辐射而设计,主要用于材料的无损检测。它按照 ISO 3059 标准开发,外壳防尘防水,防护等级达到 IP54。光学传感器直接集成在设备表面。

可见光度计:
以英尺烛光或勒克斯为单位测量可见光。

可见光计以英尺烛光或勒克斯为单位精确测量可见光,它由一个固定的可见光传感器组成,专门用于测量 400-760 纳米范围内的白色可见光,以进行无损检测。

益处

  • 光电二极管传感器
  • 测量范围为 400-760 nm,符合 ASTM E2297 标准。
  • 精度为+/-5%,符合NADCAP要求。
  • 精确测量可见白光。
  • 选择测量范围,从 0 到 2,000 英尺烛光 / 0 到 20,000 勒克斯。
  • 可调节数字显示范围:20、200 和 2,000 英尺烛光或 200、2,000 和 20,000 勒克斯

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