
无损检测光测量装置
Magnaflux - UVM3059
用于无损检测荧光测试
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技术描述
用于荧光检测的无损检测光度计
我们的无损检测 (NDT) 光度计将帮助您在日常 NDT 系统检测过程中检查和测量光照水平,以确保检测的质量和可靠性。
UVM3059
数字紫外线照度计
UVM3059 专为测量紫外线 (UV) 辐射而设计,主要用于材料的无损检测。它按照 ISO 3059 标准开发,外壳防尘防水,防护等级达到 IP54。光学传感器直接集成在设备表面。
可见光度计:
以英尺烛光或勒克斯为单位测量可见光。
可见光计以英尺烛光或勒克斯为单位精确测量可见光,它由一个固定的可见光传感器组成,专门用于测量 400-760 纳米范围内的白色可见光,以进行无损检测。
益处
- 光电二极管传感器
- 测量范围为 400-760 nm,符合 ASTM E2297 标准。
- 精度为+/-5%,符合NADCAP要求。
- 精确测量可见白光。
- 选择测量范围,从 0 到 2,000 英尺烛光 / 0 到 20,000 勒克斯。
- 可调节数字显示范围:20、200 和 2,000 英尺烛光或 200、2,000 和 20,000 勒克斯



