LK Metrology - LC15DX
三维坐标测量机 (CMM)
LK Metrology - LC15DX

三坐标测量机激光扫描头

LK Metrology - LC15DX

LC15DX – 以接触式探针精度缩小差距

技术描述

得益于其定制设计的高品质尼康(现为LK Metrology )光学元件,这款经济高效的扫描仪能够在保持速度和数据质量的同时,以极高的精度捕捉最细微的细节。该设备能够实时优化激光设置,以匹配材料类型和表面反射率,无需预处理。

LK Metrology 的 LC15DX 激光扫描头扩展了传统 CMM 的功能,能够自动、非接触地捕获组件或装配体的整个几何形状,从而提供有关制造过程的宝贵信息。 

LC15DX以接触式测头的精度弥合差距——对于需要高精度测量的三坐标测量机 (CMM) 应用,LC15DX 是接触式测头的理想替代方案。它能够以业界领先的精度扫描最小的细节。得益于固态激光技术和先进的校准方法,LC15DX 弥合了激光扫描和接触式测量之间的差距,实现了微米级的精度。其完全温度补偿系统确保了设备从开机那一刻起即可达到最高精度。

扫描光滑或多材质表面——凭借尼康独有的ESP3传感器技术,该设备可实时智能适应每个测量点,无需手动处理即可高效扫描各种材质、光滑或多材质表面。先进的软件和照明滤镜确保在各种条件下都能保持稳定性和精度。

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应用

  • 测量大型、精细的零部件和产品
  • 自由曲面测量

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