用於數位平板探測器（DDA）系統的長期穩定性測試。
Type 2 Duplex Plate 幻影可檢查 DDA 系統相關參數，例如基本空間解析度、對比靈敏度、SNR 與訊號等級，以評估初始效能和長期穩定性。ASTM E2737 標準要求並詳細說明這些測試，應定期執行以檢查製程控制和長期穩定性。
IQI、量測工具、檢查
| 項目 | 詳細資料 |
|---|---|
| A | 主底座 – 薄型: HM 5 mm / LM 12 mm |
| B | 上層圓盤 – 厚型: HM 15 mm / LM 38 mm |
| C | 孔型 IQI – .SS 25 / AL .50: 對比靈敏度（邊緣或孔洞） |
| D | 孔型 IQI – SS .81 / AL 2.0: 對比靈敏度（邊緣或孔洞） |
| E | ROI – 薄型圓盤: 訊噪比, 訊號等級 |
| F | ROI – 厚型圓盤: 訊噪比, 訊號等級 |
| G | Duplex 線型 IQI: 基本空間解析度, Độ mờ |
| 尺寸: | 400 x 300 x 15 / 38 mm 15.75 x 11.81 x 0.59 / 1.50 inch |
上層圓盤上的孔型 IQI 位於圓盤中央:
降低散射輻射及 IQI 上的梯度，提升對比靈敏度測試的重複性。
孔型 IQI 長邊旁的空白區域:
也可在 IQI 邊緣評估對比靈敏度，相較於在 IQI 孔洞處評估，可提升重複性。
孔型 IQI 附近上層圓盤上的感興趣區域 (ROI):
ROI 中的梯度最低，可提升訊噪比和訊號等級測試的重複性。
ROI 塑膠切口:
ROI 在 X 光影像中清晰可見，便於評估。
可插入兩個 Duplex 線型 IQI:
可在同一張影像中評估垂直軸和水平軸。
Duplex 線型 IQI 可拆卸:
可用於其他應用。
