
用于合金分析的台式发射光谱仪(OES)
Hitachi - OE720
OE720分光光度计适用于实验室,精度非常高,具有很宽的分析波长范围:174 - 670 nm(可扩展至766 nm)
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技术描述
- 采用CMOS传感器、Jet-stream技术、自动分析等多项先进技术
- 采用发射光谱的合金分析光谱仪由于其能够分析碳元素,在合金分析中非常受欢迎。
- 该设备的新一代火花发生器可确保对多种合金进行最佳激发。
- 高分辨率多 CMOS 光学元件可对所有不同基质的合金在整个光谱范围内进行精确分析
- 具有三维开放式结构的样品架可以安全有效地分析不同形状的样品,包括不规则形状的样品。
- 能够分析多达 35 种元素(取决于合金类型);
- 配备 GRADE 数据库,其中包含来自 70 个国家/地区的 1500 多万个不同名称和多种标准(DIN/EN、ASTM、AISI、JIS、Gost...)的 350,000 多种合金等级
- 通过具有 ExTope Connect 功能的云服务器即时在线共享数据
应用
- 工艺和熔体验证的质量控制:分析模式/等级识别
- 所有相关合金、残留、处理、痕量和杂质元素均具有低检测限
- 铝合金
- 铜合金:青铜、梅辛合金、铜镍合金
- 镍合金(N 20 ppm)
- 镁、钴、铅、锡、锌合金
规格
概述 | |
尺寸 | 425 毫米 x 760 毫米 x 535 毫米(宽 x 深 x 高) |
电源 | 100 - 250 伏交流电(50/60 赫兹) |
大量的 | 84公斤 |
功耗 | 最大430W |
待机功耗 | 45W(50W 光源开启) |
氩气 | |
纯度 | 最低 4.8 |
入口压力 | 3 酒吧 |
光学系统 | |
光学系统 | 根据帕申-龙格安装原理 |
将光直接传输到光学室。 | |
分析波长范围 | 174 - 670nm(可扩展至766nm) |
传感器 | 多 CMOS 传感器(每芯片 4096 像素),具有优化的像素分辨率。 |
对比 | |
焦距 | 400毫米 |
凹槽密度 | |
真空系统 | 该泵的容量为700w,噪音低,发热量低,无需进行泵维护。 |
通过截止阀连接,易于维护和更换光学窗口 | |
等离子发生器 | 高能电火花 (HEPS) 技术可实现更好的样品燃烧 |
使用软件设置参数 | |
频率:80 – 1000 Hz | |
电压: 250 - 500 V | |
样品架组 | 样品架组采用三维开放式结构,可容纳任意尺寸的样品 |
喷射流电极结构适用于处理小样品和形状复杂的样品。优化氩气消耗量至最低。 | |
多档可调样品夹 | |
可根据不同型号更换盖板。 | |
素数分解的极限 | 碳:10ppm;硅:10ppm;磷:2ppm;硫:5ppm;氮:500ppm;硼:1ppm |