

这款黄金纯度测量立方体精度很高。
绩效衡量
分析软件
改变采样位置
紧凑轻巧的设计
探测器
涂层厚度测量应用
益处
| 模型 | 立方体 | 魔方销 | 立方体SDD |
| 测量方向 | 从上到下 | 从上到下 | 从上到下 |
| X射线管 | 微调焦距,高性能,W型靶,点测焦距0.2mm-0.8mm | 寿命长,性能高,风冷。 | 寿命长,性能高,风冷。 |
| 功率输出 | 50kV (1.2mA) 软件控制优化 | 50kV / (1.2mA) 可编程 | 50kV / (1.2mA) 可编程 |
| 探测器 | 气体场推进剂计数器 | 硅针探测器 | 硅漂移探测器 |
| 应用 | 珠宝行业中金、银及合金的分析。镀层厚度的测量。 | ||
| 测量时间 | 60年代至180年代 | ||
| 准直器 | Ø0.3mm 或 Ø0.5mm,四位准直器可互换选项。 | ||
| 示例展示表 | 手动调节 | ||
| 供应来源 | 230伏交流电,50/60赫兹,120瓦/100瓦 | ||
| 测量腔室尺寸 | 330 x 200 x 170 毫米(宽 x 深 x 高) | ||
| 机器尺寸 | 350 x 450 x 310 毫米(宽 x 深 x 高) | ||
| 重量 | 27公斤 | ||
| 选修的 | 工作台高度和图像焦点的自动调节,X轴和Y轴控制,用于定位和样品发射/启动,通过操纵杆实现。 | ||