주사 탐침
Renishaw - SP25M
이 제품은 복잡한 스캐닝 및 형상 측정 애플리케이션에 이상적이며, 스캐닝 및 접촉 측정 기능을 결합하여 높은 유연성과 정확성을 제공합니다.
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기술 설명
SP25M - 소형이면서 다용도로 활용 가능한 스캐닝 프로브 시스템.
- TP20 프로브 모듈을 사용하여 스캐닝 프로브와 터치 프로브, 두 가지 센서 기능을 하나로 통합했습니다.
- 모듈형 구성 요소 간의 빠른 변경 및 자동 반복.
- M3 프로브의 스캔 범위가 20mm에서 400mm(0.79인치에서 15.75인치)에 이르러 탁월한 스캔 정확도를 제공합니다.
- 부담 없는 가격의 초보자용 키트로, 필요에 따라 쉽게 확장할 수 있습니다.
- 절연 광학 측정 기술은 긴 프로브를 사용하더라도 탁월한 측정 성능을 제공합니다.
- PH10M PLUS / PH10MQ PLUS 관절형 프로브와 호환되어 더 적은 프로브로 더 많은 기능을 사용할 수 있습니다.
- 직경 25mm(0.98인치)의 초소형 시스템은 탁월한 세부 접근성을 제공합니다.
- 최대 100mm 길이의 프로브 연장봉과 호환됩니다.
- 가격 책정 방식이 유연하며, 포트를 쉽게 구성하여 모든 시스템 구성 요소를 수용할 수 있습니다.
- Z축에는 범프 스톱 충돌 방지 장치가 있으며, XY축 충돌 방지를 위한 탈착식 프로브 홀더가 있습니다.
사양
| 명세서: | |
| 모으다 | 레니쇼 자동 연결기: PH10M, PH10MQ 또는 PH6 헤드 |
| 탐사 속성 | 세 축(X, Y, Z)에 걸쳐 유사한 방식으로 측정합니다. |
| XY 평면에서의 회전 운동과 Z 평면에서의 병진 운동. | |
| 측정 범위 | 모든 방향에서 ±0.5mm(±0.02인치)의 편차가 있습니다. |
| 과도한 운동 범위 | ±X, ±Y = 2.0 mm (0.08 in) |
| +Z = 1.7 mm (0.07 in) | |
| -Z = 1.2 mm (0.05 in) | |
| 충돌 방지 | X, Y, -Z 축은 모듈 또는 스타일러스 홀더를 분리하여 제어합니다. |
| +Z는 통합 충돌 방지 설계를 통해 구현됩니다. | |
| 전원 공급 장치 | +12V(±5%), -12V(+10% / -8%), |
| 프로브에서 +5V DC (+10% / +13%) DC | |
| 프로브 교정 | SP25M은 비선형 3차 다항식 보정 방법을 필요로 합니다. |
