HORIBA - XGT-9000 series
RoHS 시험 장비
HORIBA - XGT-9000 series

마이크로 X선 파편화 현미경(Micro-XRF)

HORIBA - XGT-9000 series

XGT-9000 시리즈는 재료의 비파괴 원소 분석을 가능하게 하는 마이크로 X선 형광 분광기입니다.

기술 설명

차세대 마이크로 X선 형광 분석 현미경(마이크로 XRF 분광기라고도 함)은 속도와 유연성 면에서 뛰어납니다.

  • 높은 감도와 광범위한 검출 가능 원소
  • 형광 및 투과 X선용 이중 검출기
  • 초고강도 X선관을 사용한 스팟 크기 ≥15 µm
  • 고해상도 카메라와 다양한 조명 모드
  • 샘플 챔버는 다양한 용도에 사용될 수 있습니다.
  • 유연하고 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스

사양

모델XGT-9000
XGT-9000 프로XGT-9000 CXGT-9000 전문가
기본 정보
   장치 이름X선 형광 현미경
   원칙마이크로 X선 에너지 분산 형광(micro-XRF)
   원소 범위*F(9) - Am(95)C(6) - Am(95)B(5) - Am(95)
   샘플 챔버 크기450mm(폭) x 500mm(깊이) x 80mm(높이)
   최대 샘플 무게1kg
   최대 매핑 영역300mm(폭) x 250mm(깊이)에 100mm x 100mm
샘플 관찰
   광학 이미지 관찰02 고해상도 카메라
   전체 이미지500만 화소, 시야각: 100mm x 100mm
   자세한 이미지500만 화소, 시야각: 2.5mm x 2.5mm
   광학 설계광학 관찰 및 동축 X선 빔
   샘플 조명/관찰상단, 하단, 측면 조명/ 밝은 필드와 어두운 필드
엑스선 발생기
   용량최대 50W
   전압최대 50kV
   전류최대 1mA
   대상 물질Rh
X선 가이드 튜브(측정 헤드)
   측정점 크기를 선택하세요다양한 프로브 조합이 가능합니다(예: 15μm 및 100μm 초고강도 프로브 선택 가능)
탐지기
   X선 형광 검출기SDD 타입은 액체질소가 필요 없습니다.
   투과형 검출기NaI(Tl)
작동 모드
   측정 환경전체 진공전체 진공전체 진공
부분 진공부분 진공부분 진공
전체 환경전체 환경 
필터(선택 사항)필터(선택 사항) 
치수(주요 기계)
   장치 크기680mm(오른쪽) x 860mm(아래쪽) x 760mm(중앙)
   무게~ 200kg

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