
마이크로 X선 파편화 현미경(Micro-XRF)
HORIBA - XGT-9000 series
XGT-9000 시리즈는 재료의 비파괴 원소 분석을 가능하게 하는 마이크로 X선 형광 분광기입니다.
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기술 설명
차세대 마이크로 X선 형광 분석 현미경(마이크로 XRF 분광기라고도 함)은 속도와 유연성 면에서 뛰어납니다.
- 높은 감도와 광범위한 검출 가능 원소
- 형광 및 투과 X선용 이중 검출기
- 초고강도 X선관을 사용한 스팟 크기 ≥15 µm
- 고해상도 카메라와 다양한 조명 모드
- 샘플 챔버는 다양한 용도에 사용될 수 있습니다.
- 유연하고 사용자 친화적인 소프트웨어 인터페이스
사양
모델 | XGT-9000 | ||
XGT-9000 프로 | XGT-9000 C | XGT-9000 전문가 | |
기본 정보 | |||
장치 이름 | X선 형광 현미경 | ||
원칙 | 마이크로 X선 에너지 분산 형광(micro-XRF) | ||
원소 범위* | F(9) - Am(95) | C(6) - Am(95) | B(5) - Am(95) |
샘플 챔버 크기 | 450mm(폭) x 500mm(깊이) x 80mm(높이) | ||
최대 샘플 무게 | 1kg | ||
최대 매핑 영역 | 300mm(폭) x 250mm(깊이)에 100mm x 100mm | ||
샘플 관찰 | |||
광학 이미지 관찰 | 02 고해상도 카메라 | ||
전체 이미지 | 500만 화소, 시야각: 100mm x 100mm | ||
자세한 이미지 | 500만 화소, 시야각: 2.5mm x 2.5mm | ||
광학 설계 | 광학 관찰 및 동축 X선 빔 | ||
샘플 조명/관찰 | 상단, 하단, 측면 조명/ 밝은 필드와 어두운 필드 | ||
엑스선 발생기 | |||
용량 | 최대 50W | ||
전압 | 최대 50kV | ||
전류 | 최대 1mA | ||
대상 물질 | Rh | ||
X선 가이드 튜브(측정 헤드) | |||
측정점 크기를 선택하세요 | 다양한 프로브 조합이 가능합니다(예: 15μm 및 100μm 초고강도 프로브 선택 가능) | ||
탐지기 | |||
X선 형광 검출기 | SDD 타입은 액체질소가 필요 없습니다. | ||
투과형 검출기 | NaI(Tl) | ||
작동 모드 | |||
측정 환경 | 전체 진공 | 전체 진공 | 전체 진공 |
부분 진공 | 부분 진공 | 부분 진공 | |
전체 환경 | 전체 환경 | ||
필터(선택 사항) | 필터(선택 사항) | ||
치수(주요 기계) | |||
장치 크기 | 680mm(오른쪽) x 860mm(아래쪽) x 760mm(중앙) | ||
무게 | ~ 200kg |