X선 단층 촬영 시스템
GE - microme|x
이 고해상도 0.2μm 시스템은 680x635mm 크기의 검사 대상물을 처리할 수 있어 반도체 산업(SMT)에 매우 적합합니다. 특히 PCB 검사를 위해 설계되었습니다.
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기술 설명
- 초고해상도 자동 X선 검사 시스템은 반도체 및 SMT 산업에서 소형 기계 부품 및 회로 기판 검사에 사용됩니다.
- 해상도 0.5 μm
- 고출력 마이크로포커스 X선관 180kV/20W
- 디지털 이미지 해상도는 2메가픽셀에 달합니다.
- 배율(2D): 1970배, 배율(3D): 100배
- 조절 가능한 시야각: 0도 ~ 70도
- 최대 시료 검사 크기(높이 x 직경): 680mm x 635mm; 5축 제어
- 시험용 시료 최대 중량: 10kg
- 선택 사양으로 3D CT 기능을 제공하며, 단 10초 만에 CT 스캔이 가능합니다.
- 컴팩트한 캐빈형 시스템은 모든 실험실이나 생산 라인에 적합합니다.
