Aczet - Cube

금 순도 검사기

Aczet - Cube

금 순도 측정 큐브는 매우 정확합니다.

기술 설명

  • 버튼 하나만 누르면 원소 구성, 금 순도, 캐럿 값 등 분석 결과가 표시됩니다. X선 차폐 시스템이 탑재되어 있어 사용자의 안전을 완벽하게 보장합니다.
  • 고품질 CDD 카메라를 사용하여 비디오를 통해 시료를 관찰합니다. 분석은 비접촉식, 비파괴 방식으로 진행됩니다. 분석 시간은 60초에서 2분 이내로 빠릅니다. 작동법도 매우 간단하여 시료 위치만 조정하면 됩니다.
  • 금, 은, 구리, 아연, 니켈, 팔라듐, 카드뮴, 로듐, 루테늄, 백금 등 최대 20개의 원소가 발견되었습니다.
  • 검사 결과 납(Pb)과 카드뮴(Cd)과 같은 유독성 금속이 검출되었는데, 이는 회람 22호에 따라 금지된 물질입니다.
  • SDD 검출기는 이리듐(Ir), 오스뮴(Os), 루테늄(Ru), 텅스텐(W)과 같은 원소를 검출할 수 있습니다.

분석 소프트웨어

  • 8개 원소를 동시에 분석할 수 있으며, 최대 20개 원소까지 분석 가능합니다.
  • 평균과 표준편차를 포함하는 통계 함수
  • 사용자는 직접 기기를 보정할 수 있습니다.

샘플 위치를 변경하세요

  • 이 기기는 시료 위치를 변경할 수 있습니다. 금 순도 측정을 위한 시료의 위치와 크기에 따라 사용자는 상하로 조정하여 시료를 이동시킬 수 있습니다. 큐브 시리즈 금 순도 측정기는 XYZ축을 따라 시료를 자동으로 조정할 수 있습니다.

컴팩트하고 가벼운 디자인

  • 뛰어난 디자인 덕분에 컴팩트한 크기를 자랑하며, 가장 작은 쇼룸부터 가장 넓은 비즈니스 공간까지 어디에나 설치할 수 있습니다.

탐지기

  • 현재 가장 일반적으로 사용되는 검출기 유형은 실리콘 드리프트 검출기(SDD)와 실리콘 핀 검출기(Si-Pin)입니다. SDD는 높은 감도와 정확도를 제공하는 현재 최고의 검출기입니다.
  • Si-Pin 검출기는 Au, Pt, Rh, Cu, Zn, Ag, Co, Ru, Pd, Ni, Cr, Mo, Ir, Bi 등 다양한 원소를 검출할 수 있지만 Os(베트남 금 시장에서 흔히 볼 수 있는 원소) 검출에는 어려움이 있습니다. 처리 속도는 SDD 검출기보다 약간 느립니다.

코팅 두께 측정용 애플리케이션

  • 도금 및 전자 산업에 특히 유용합니다.

혜택

  • 고정밀 금 순도 검사. 귀금속의 원소 구성 분석.
  • 다른 분석 장비에 비해 초기 비용이 저렴합니다.
  • 최소 운영 비용
  • 비파괴 검사 솔루션
  • 짧은 시료 준비 시간
  • 분석 결과는 60초에서 300초 이내에 빠르게 확인할 수 있습니다.
  • 이 기술은 배우기 비교적 간단하며 정확하고 재현성이 높은 결과를 제공합니다.
  • 생산 과정 중 제품 품질 관리.

사양

모델입방체큐브 핀큐브 SDD
측정 방향위에서 아래로위에서 아래로위에서 아래로
엑스레이 튜브초소형 초점, 고성능, W-타겟, 스팟 크기 0.2mm-0.8mm긴 수명, 고성능, 공랭식.긴 수명, 고성능, 공랭식.
전력 출력50kV(1.2mA) 소프트웨어 제어 최적화50kV / (1.2mA) 프로그래밍 가능50kV / (1.2mA) 프로그래밍 가능
탐지기가스 충전식 프로펠러 카운터실리콘 핀 검출기실리콘 드리프트 검출기
애플리케이션보석 산업에서 금, 은 및 합금 분석. 도금 두께 측정.
측정 시간60대부터 180대까지
콜리메이터직경 0.3mm 또는 0.5mm, 4방향 콜리메이터 교체 가능 옵션.
샘플 표시 테이블수동 조절
공급원230VAC, 50/60Hz, 120W/100W
측정 챔버 크기330 x 200 x 170 mm (가로 x 세로 x 높이)
기계 치수350 x 450 x 310 mm (가로 x 세로 x 높이)
무게27kg
선택 과목작업대 높이 및 이미지 초점의 자동 조절, 조이스틱을 통한 위치 지정 및 샘플 발사/배출을 위한 X 및 Y축 제어.

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