

スキャン測定と接触測定を組み合わせた、複雑な形状やスキャン測定アプリケーションに最適で、柔軟性と高精度を実現します。
SP25M - コンパクトで多用途なスキャニングプローブシステム
| 仕様: | |
| 組み立てる | レニショー自動カップリング:PH10M、PH10MQ、またはPH6ヘッド |
| 探索的特性 | 3軸アナログ測定(X、Y、Z) |
| XY平面での回転運動とZ平面での並進運動 | |
| 測定範囲 | 全方向±0.5 mm(±0.02インチ)の偏差 |
| 過度の可動域 | ±X、±Y = 2.0 mm(0.08インチ) |
| +Z = 1.7 mm (0.07 インチ) | |
| -Z = 1.2 mm (0.05 インチ) | |
| 衝突保護 | モジュール切断またはスタイラスホルダー経由のX、Y、-Z |
| +Zは統合衝突防止設計を採用 | |
| 電源 | +12V(±5%)、-12V(+10%/-8%)、 |
| プローブでの+5 V(+10% / +13%)DC | |
| プローブ校正 | SP25Mは非線形3次多項式キャリブレーション法を必要とする |