
走査プローブ
Renishaw - SP25M
スキャン測定と接触測定を組み合わせた、複雑な形状やスキャン測定アプリケーションに最適で、柔軟性と高精度を実現します。
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技術仕様
SP25M - コンパクトで多用途なスキャニングプローブシステム
- 2 つのセンサーを 1 つに統合 - TP20 プローブ モジュールを使用したスキャニング プローブとタッチ プローブ。
- モジュールコンポーネント間の高速かつ自動的な切り替え。
- 20 mm ~ 400 mm (0.79 インチ ~ 15.75 インチ) の M3 プローブ範囲で優れたスキャン精度を実現します。
- 安価なスターターキット、拡張も簡単。
- 独立した光学測定技術により、長い測定ヘッドでも比類のない測定性能を実現します。
- PH10M PLUS / PH10MQ PLUS 関節プローブと互換性があり、より少ないプローブでより多くの機能にアクセスできます。
- 直径 Ø25 mm (Ø0.98 インチ) の超小型システムで、細部まで優れたアクセスを実現します。
- 最大 100 mm のプローブ延長ロッドと互換性があります。
- あらゆるシステム コンポーネントに合わせてポートを簡単に構成できる柔軟な価格設定。
- Z 軸のバンプストップ衝突保護と、取り外し可能なプローブ ホルダーによる XY 衝突保護。
仕様
仕様: | |
組み立てる | レニショー自動カップリング:PH10M、PH10MQ、またはPH6ヘッド |
探索的特性 | 3軸アナログ測定(X、Y、Z) |
XY平面での回転運動とZ平面での並進運動 | |
測定範囲 | 全方向±0.5 mm(±0.02インチ)の偏差 |
過度の可動域 | ±X、±Y = 2.0 mm(0.08インチ) |
+Z = 1.7 mm (0.07 インチ) | |
-Z = 1.2 mm (0.05 インチ) | |
衝突保護 | モジュール切断またはスタイラスホルダー経由のX、Y、-Z |
+Zは統合衝突防止設計を採用 | |
電源 | +12V(±5%)、-12V(+10%/-8%)、 |
プローブでの+5 V(+10% / +13%)DC | |
プローブ校正 | SP25Mは非線形3次多項式キャリブレーション法を必要とする |