Renishaw - SP25M

走査プローブ

Renishaw - SP25M

スキャン測定と接触測定を組み合わせた、複雑な形状やスキャン測定アプリケーションに最適で、柔軟性と高精度を実現します。

技術仕様

SP25M - コンパクトで多用途なスキャニングプローブシステム

  • 2 つのセンサーを 1 つに統合 - TP20 プローブ モジュールを使用したスキャニング プローブとタッチ プローブ。
  • モジュールコンポーネント間の高速かつ自動的な切り替え。
  • 20 mm ~ 400 mm (0.79 インチ ~ 15.75 インチ) の M3 プローブ範囲で優れたスキャン精度を実現します。
  • 安価なスターターキット、拡張も簡単。
  • 独立した光学測定技術により、長い測定ヘッドでも比類のない測定性能を実現します。
  • PH10M PLUS / PH10MQ PLUS 関節プローブと互換性があり、より少ないプローブでより多くの機能にアクセスできます。
  • 直径 Ø25 mm (Ø0.98 インチ) の超小型システムで、細部まで優れたアクセスを実現します。
  • 最大 100 mm のプローブ延長ロッドと互換性があります。
  • あらゆるシステム コンポーネントに合わせてポートを簡単に構成できる柔軟な価格設定。
  • Z 軸のバンプストップ衝突保護と、取り外し可能なプローブ ホルダーによる XY 衝突保護。

仕様

仕様:
組み立てるレニショー自動カップリング:PH10M、PH10MQ、またはPH6ヘッド
探索的特性3軸アナログ測定(X、Y、Z)
XY平面での回転運動とZ平面での並進運動
測定範囲全方向±0.5 mm(±0.02インチ)の偏差
過度の可動域±X、±Y = 2.0 mm(0.08インチ)
+Z = 1.7 mm (0.07 インチ)
-Z = 1.2 mm (0.05 インチ)
衝突保護モジュール切断またはスタイラスホルダー経由のX、Y、-Z
+Zは統合衝突防止設計を採用
電源+12V(±5%)、-12V(+10%/-8%)、
プローブでの+5 V(+10% / +13%)DC
プローブ校正SP25Mは非線形3次多項式キャリブレーション法を必要とする

関連製品

LK Metrology - VIVID SLK25

レーザースキャナー

LK Metrology - VIVID SLK25

Renishaw - Styli

3D CMM測定針

Renishaw - Styli

Renishaw - RTP20

CMM用自動測定ヘッド

Renishaw - RTP20

Renishaw - PH10M

CMM用自動3軸測定ヘッド

Renishaw - PH10M

当社の製品に興味がありますか?
製品または機器の見積もりが必要ですか?

無料で専門的なアドバイスを受けるには、当社の専門チームにお問い合わせください。