X-Strata920 XRF コーティング アナライザーは、1 つまたは複数の層のコーティングの厚さを分析/測定するように設計されています。
| 概要 | |
| 検出可能な元素範囲: | Ti から U (PC 検出器) と AL から U (SDD 検出器)。 |
| レイヤーと要素の数: | 最大 4 層のコーティング/1 層のベースコートを測定できます。一度に最大 25 個の元素のスペクトルを分析します。 |
| X線源: | 50W。 |
| カウンター（検出器）: | PC または SDD。 |
| コリメータ: | 単一または複数のチューブ（1 ～ 6 個のコリメータ チューブを装備できます）。お客様のご要望に応じてさまざまなサイズをご用意しております（最小0.025x0.05mm） |
| 集中： | レーザー、カメラフォーカス方式よりも優れたフォーカス。 |
| セカンダリフィルター: | オーバーラップ補正用のフィルターは最大 3 つ（バナジウム、コバルト、ニッケル）。（PC 検出器のみ） |
| デジタルパルス処理： | 4096 チャンネル デジタル マルチチャンネル アナライザー。自動信号処理。 |
| 監視カメラ: | 持っている。 |
| ソフトウェア： | スマートリンクFP。 |
| 言語： | 英語、中国語（繁体字・簡体字）、フランス語、ドイツ語、スペイン語、日本語、韓国語、イタリア語、チェコ語、ロシア語 |
| コンピューター： | Intel Core 2 Duo E7500 CPU 2.93 GHz; 500Gb ハードドライブ、2Gb RAM; DVD-RW。 Microsoft WindowsTM オペレーティング システム。 |
| 電源： | 85〜130ボルトまたは215〜265ボルト、周波数範囲は47Hz〜63Hzです。 |
| 労働環境: | 10°C (50°F) ～ 40°C (104°F)、相対湿度最大 98%、結露なし。 |
| 利用可能な構成: | |
| 標準： | （サンプル高さ33 mmの部品の場合） |
| ミニウェル: | （サンプル高さ160mmの部品の場合） |
| XYテーブル: | 178mm×178mm。 |
| すべての構成における Z 軸の移動: | 43ミリメートル。 |
| 寸法（幅×長さ×高さ）： | |
| 標準： | 407 x 770 x 305 mm。 |
| ミニウェル： | 407 x 770 x 400 mm。 |
| XYテーブル: | 610 x 1037 x 375 ミリメートル。 |
| 注記： | 上記の寸法にはPCとモニターは含まれません。 |
| 重さ： | 97kg（PC・モニター除く）。 |
