金純度試験機

パフォーマンス測定

• ボタンを1回押すだけで、元素組成、金の純度、カラット値などの結果が表示されます。X線遮蔽システムと組み合わせることで、ユーザーの安全性は絶対的に確保されます。
• 高品質CDDカメラを用いたビデオ映像でサンプルを観察します。分析は非接触・非破壊で行われます。分析時間は60秒から2分と迅速です。操作は非常に簡単で、サンプルを配置するだけです。
• 最大 20 個の元素が発見されています: Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Cd、Rh、Ru、Pt、…
• 検査の結果、通達第22号で禁止されている有毒金属Pb（鉛）とカドミウム（Cd）が存在することが判明しました。
• SDD 検出器は、イリジウム (Ir)、オスミウム (Os)、ルテニウム (Ru)、タングステン (W) などの元素を検出できます。

分析ソフトウェア

• 8元素同時分析が可能。最大20元素まで分析可能です。
• 平均と標準偏差を使った統計関数
• ユーザーは自分でデバイスを調整できます。

サンプルの位置を変更する

• 本機はサンプルの位置を調整することができ、金純度を測定するサンプルの位置とサイズに応じて、ユーザーが上下に調整してサンプルを変更できます。Cubeシリーズの金純度試験機は、XYZ軸に沿ってサンプルを自動調整します。

コンパクトで軽量なデザイン

• 巧みな設計によりコンパクトなサイズを実現し、小さなショールームから広いビジネスエリアまで、どこにでも設置できます。

検出器

• 現在、最も一般的に使用されている検出器は、シリコンドリフト検出器（SDD）とシリコンピン検出器（Si-Pin）です。SDDは現在入手可能な最高の検出器であり、高い感度と精度を備えています。
• Si-Pin検出器は、Au、Pt、Rh、Cu、Zn、Ag、Co、Ru、Pd、Ni、Cr、Mo、Ir、Biなど多くの元素を検出できますが、O（ベトナムの金市場でよく見られる元素）の検出は困難です。処理速度はSDD検出器よりも若干遅くなります。

コーティング厚さ測定アプリケーション

• 特にメッキ業界やエレクトロニクス業界に役立ちます。

利点

• 高精度の金純度試験。貴金属中の元素組成の決定。
• 他の分析装置に比べて初期コストが低い。
• 最小限の運用コスト
• 非破壊検査ソリューション
• 短いサンプル準備時間
• 分析結果は 60 ～ 300 秒以内にすぐに得られます。
• この技術は習得が比較的簡単で、正確で再現性の高い結果が得られます。
• 生産中の製品品質管理。